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深度“解剖”神秘的德州仪器DLP NIRscan Nano模块

发布时间:2019-06-24 20:02 来源:未知 编辑:admin

  NIRscan Nano评估模块(EVM)的硬件及光引擎解释清楚,网友拆解了一个早期由Coretronic公司生产的模块。需要注意的是,任何对光引擎的拆解会使NIRscan Nano EVM的保修失效。另外,去掉光引擎上的罩子会使灰尘和污垢聚集在光学器件上,从而影响到系统性能。此外,去掉上面的罩子会移动光学器件、狭缝和探测器,使这些元件错位,需要厂家重新进行对准和校准。如果拆除了狭缝,将需要把InGaAs探测器和

  我们先来快速浏览一下。如下图所示,基于DLP的分光计利用数字微镜器件 (DMD)和单点探测器取代了传统线性阵列探测器。通过按顺序打开与特定波长光相对应的一组镜列,对应光线被指向探测器,并被捕获。通过扫描DMD上的一组镜列,可以计算出吸收光谱。要获得与DLP分光计实现方式相关的更多细节,请参考DLP分光计设计注意事项 。

  与具有极小像素的线性阵列探测器相比,通过使用更大的单点1mm探测器,它能实现更高性能。

  通过使用单元探测器和低成本光学器件,它能实现更低的系统成本。高分辨率DMD使得定制图形能够补偿每一个单独系统的光学失真。

  能够捕获更大信号不仅得益于相比传统技术,DMD具有更大的光学扩展量(etendue),而且也受益于其快速、灵活、以及可编程的显示模式及滤波器设计。

  使用一组Hadamard图形来在一个模式内捕捉多个波长的光。然后,单独的波长数据可通过解码获取。每个模式内打开DMD像素数量的50%,将比上面提到的列扫描方式获得更强信号引至探测器/

  当前,DLP NIRscan Nano软件支持可变分辨率和Hadamard图形。不支持可变强度和定制光谱滤波器。光谱滤波器的示例请见SPI论文:由Eric Pruett撰写的德州仪器(TI) DLP近红外分光计的最新开发实现了下一代嵌入式小巧、便携式系统。

  OPA2376转阻低噪声放大器:将InGaAs探测器到ADC的信号放大。

  TMP006热电偶传感器:测量InGaAs探测器系统的环境温度。这些值在每次扫描时被捕获。

  REF5025:低噪声、极低漂移、高精度电压基准,它为转阻放大器和ADC提供2.5V基准。

  一旦将光引擎的罩子拿掉,你就能够看到以下的光学组件。准直镜头和波通滤波器在前两张照片中所示的金属薄片的下方。为了让你看到系统的全部光学器件,我已经将这个金属薄片拆除。

  在这幅图中,我已经在来自样品的输入反射光上添加了标记(黄色箭头)。漫反射自样品的光在采集镜头上聚集,并且通过输入狭缝聚焦在光引擎上。狭缝的大小设定平衡了波长分辨率以及分光计信噪比的考量这个分光计使用宽度为25m、长度为1.69mm的狭缝。通过狭缝的光在第一组镜头上校准,通过一个885nm长的波通滤波器,然后打在一个反射光栅上。这个与聚焦透镜组合在一起的光栅将光源色散为连续波长(多色光线)。聚焦透镜将狭缝图像展开在DLP2010NIRDMD上。这个狭缝图像的不同波长水平分布在DLP2010NIR DMD上。这个光学系统将900nm波长成像在DMD的一端上,将1700nm波长成像在另一端上,而在两端中间按顺序散开所有其它波长。

  当选择将特定的DMD镜列打开时,或倾斜到+17位置时,所选镜列反射回来的光线在引导下,通过采集光学器件,到达单像素InGaAs探测器(黄色光线)。所有其它DMD镜列被设置为关闭、或者倾斜至-17位置上,使未选中的波长的光线转向光引擎的底部,并远离探测器光路径,这样的话,就不会干扰所选波长的测量了。

  为了在狭缝位置、光栅角度和DMD 位置上允许机械公差,DLP NIRscan Nano的狭缝图像投到DMD上时,在长度方向上每边欠覆盖10%而在高度方向上每边过覆盖10%,这就使DMD上每个像素列对应约为(1700 - 900nm)/(854 * 0.8像素) = 1.17nm。制造时,在波长与它们在DMD上的镜列位置之间进行校准。由于DMD镜列的数量通常不是所需波长组数量的整数倍,DLP NIRscan Nano在整个扫描期间保持镜列的宽度不变,按照所需波长组数量的步长在DMD上移动。

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